露點儀測量中應注意的問題： 鏡面污染對露點測量的影響：在露點測量中，鏡面污染是一個突出的問題，其影響主要表現在兩個方面；一是拉烏爾效應，二是改變鏡面本底放射水平。拉烏爾效應是由水溶性物質造成的。如果被測氣體中攜帶這種物質（一般是可溶性鹽類）則鏡面提前結露，使測量結果產生正偏差。若污染物是不溶于水的微粒，如灰塵等，則會增加本底的散射水平，從而使光電露點儀發(fā)生零點漂移。此外，一些沸點比水低的容易冷凝的物質（例如有機物）的蒸氣，不言而喻將對露點的測量產生干擾。因此，無論任何一種類型的露點儀都應防止污染鏡面。一般說來，工業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴重的。但即使是在純氣的測量中鏡面的污染亦會隨時間增加而積累。

“壓力露點”和“大氣露點”之間的關系是什么？ 壓力露點和大氣露點之間的對應關系與壓縮比有關，壓縮比通常用圖形表示。當“壓力露點”相同時，“壓縮”比越大，相應的大氣露點越低。例如，當0.7MPa壓縮空氣的露點為2℃時，大氣壓力的露點為-23℃。 當壓力增加到1.0MPa，相同壓力下的露點為2℃時，相應的大氣露點降低到-28℃。使用什么儀器測量壓縮空氣的露點？雖然壓力露點的單位是℃，但其表達的是壓縮空氣的含水量。所以測量露點實際上就是測量空氣中的水分含量。測量壓縮空氣露點的儀器有很多，如氮氣和乙醚等冷源的“鏡面露點計”，五氧化二磷和氯化鋰等電解質的“電解濕度計”等等。目前工業(yè)上廣泛采用專用氣體露點儀測量壓縮空氣露點，如國產TDW露點儀，測量范圍為-100℃。

露點儀的測量方法——阻容法 是一種不斷完善的濕度測量方法。利用一個高純鋁棒，表面氧化成一層超薄的氧化鋁薄膜，其外鍍一層多空的網狀金膜，金膜與鋁棒之間形成電容，由于氧化鋁薄膜的吸水特性，導致電容值隨樣氣水分的多少而改變，測量該電容值即可得到樣氣的濕度。