同時(shí)利用透射電鏡、掃描電鏡以及偏光顯微鏡輔以溶脹平衡實(shí)驗(yàn)對(duì)MMT在CIIR基體材料內(nèi)的分散以及作用機(jī)理進(jìn)行觀察和分析，探討了OMMT作為阻尼劑的阻尼機(jī)理，研究了不同的分散情況對(duì)CIIR/OMMT復(fù)合材料力學(xué)性能、阻尼性能的影響，在進(jìn)行預(yù)清洗過程時(shí)，蝕刻速率變化不大，說明表面沒有氧化硅掩蔽層或有機(jī)殘留物層，透射電鏡調(diào)查也證實(shí)了這一發(fā)現(xiàn)，通過透射電鏡高分辨元素成像，可以看出納米顆粒的元素組成確實(shí)包括Cd元素和S元素。

透射電子顯微鏡（TEM）是研究材料微結(jié)構(gòu)zui直接的表征技術(shù)之一，能夠在納米到原子尺度對(duì)材料微結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像與分析，目前，應(yīng)用于材料的電學(xué)參數(shù)表征方法可以分為兩大類：一類為宏觀尺度技術(shù)，比如四點(diǎn)探針法或范德堡法，光學(xué)測量等，允許快速檢測，但只能提供直流電導(dǎo)率等單一參數(shù)信息，另一類為納米尺度的技術(shù)，如拉曼光譜、原子力顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡等，能夠得到分辨率很高的圖像，然而通常需要復(fù)雜的樣品制備步驟，并且測量速度十分緩慢，無法實(shí)現(xiàn)高速測量。

染色方法有單染，包括鉛鹽單染和鈾鹽單染；雙染色，醋酸鈾染色和檸檬酸鉛染色，雙染色呈現(xiàn)結(jié)果更全面，我們一般采用的雙染法進(jìn)行染色，常用染色劑：醋酸鈾，有微弱的放射性，主要染核酸、核蛋白、細(xì)胞核、結(jié)締組織，檸檬酸鉛，主要染膜結(jié)構(gòu)、脂類、糖原等，易與CO2反應(yīng)成沉淀，染色中應(yīng)采取措施避免，電鏡照片主要解析粒徑分布、單晶/多晶、晶面結(jié)構(gòu)、元素和原子分散，其本質(zhì)是信號(hào)的空間分布，基本機(jī)理與比例尺地圖是一致的。