XAFS方法通常具有元素分辨性，幾乎對所有原子都具有相應(yīng)性，對固體（晶體或非晶）、液體、氣體等各類樣品都可以進行相關(guān)測試，XAFS原理示意圖，眾所周知，通過同步輻射XAFS表征技術(shù)可用獲得及其豐富的材料電子結(jié)構(gòu)和配位結(jié)構(gòu)信息，可以發(fā)現(xiàn)在許多頂刊發(fā)表的研究中XAFS都起到了至關(guān)重要的作用，擴展邊X射線吸收精細結(jié)構(gòu)分析：XAFS原始數(shù)據(jù)可以分為擴展邊X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（EXAFS）和近邊X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（XANES）兩部分。

如美國康奈爾大學(xué)CHESS光源，北京同步輻射裝置BSRF，BSRF依托于北京正負電子對撞機，部分時間按同步輻射專用模式運行，在專用模式下，總體性能大體達到第二代光源水平，X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（X-rayabsorptionfinestructure，XAFS）也叫做X射線吸收譜（X-rayabsorptionspectroscopy，XAS），是一種基于同步輻射光源的，研究材料局域原子、電子結(jié)構(gòu)的一種有力的工具。

第二代是同步輻射專用光源，典型設(shè)計為利用彎轉(zhuǎn)磁鐵產(chǎn)生同步輻射，它們都是電子儲存環(huán)，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實驗室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實驗室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內(nèi)機時供不應(yīng)求，如上海光源BL14W1線站的機時申請獲批率僅有15%；另一方面，數(shù)據(jù)解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎(chǔ)的專業(yè)人員才能解析出更具有可信度的結(jié)果。