本期，筆者重點(diǎn)介紹同步輻射XAFS技術(shù)，不依賴于長程有序結(jié)構(gòu)，可用于非晶態(tài)材料的研究；，不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；，不受樣品狀態(tài)影響，可測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態(tài)）和氣體等；，作者以Bi和Bi2O3作為參考，分析了Bi2O2Se和Bi2O2Se/G復(fù)合材料中BiL3邊XANES光譜（圖8），同時利用吸收邊特征，根據(jù)偶極子選擇規(guī)則探測電子從2p3/2軌道到空6d軌道的激發(fā)。

EXAFS擬合，提供配位原子種類、配位數(shù)和鍵長信息，以及簡單的、從物理角度對譜的分析；，wavelet圖譜，作為EXAFS擬合的進(jìn)一步證據(jù)，同時用小波炫圖來提高數(shù)據(jù)分析“逼格”；，幫答復(fù)審稿意見中關(guān)于XAFS的問題，提供中文回答，但不包括論文寫作；，EXAFS可以看作是中心元素內(nèi)層電子吸收X射線躍遷到外層形成光電子，光電子以波的形式發(fā)射出去并受到周圍原子的散射，散射波與發(fā)射波產(chǎn)生干涉就得到了震蕩波譜。

第二代是同步輻射專用光源，典型設(shè)計(jì)為利用彎轉(zhuǎn)磁鐵產(chǎn)生同步輻射，它們都是電子儲存環(huán)，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實(shí)驗(yàn)室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實(shí)驗(yàn)室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內(nèi)機(jī)時供不應(yīng)求，如上海光源BL14W1線站的機(jī)時申請獲批率僅有15%；另一方面，數(shù)據(jù)解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎(chǔ)的專業(yè)人員才能解析出更具有可信度的結(jié)果。