對樣品無破壞，可進行原位測試；，能獲得高精度的配位原子種類、配位數及原子間距等結構參數，一般認為原子間距度可達0，01?，在研究中，XAFS越來越成為“標配”，國內越來越多的課題組力圖通過該技術進行深入表征，提升研究檔次，有鑒于此，湖南大學譚勇文教授課題組[4]對BiSn合金前驅體，采用一步電化學刻蝕的方法，得到了一種新型的Bi基納米線結構催化劑，該催化劑以高導電性的Bi為金屬核，以Sn摻入非晶相BiOx為殼，zui終實現了電化學還原CO2為甲酸的高選擇性。

X射線自由電子激光不僅能產生無與倫比的高亮度輻射，而且輻射具有完全的橫向相干性，并且是脈沖式的，比較有代表性的FEL光源有美國的LCLS光源，德國的EuroXFEL光源等，同步輻射XAFS對吸收元素的局域結構和化學環境相當敏感，能夠在原子尺度上表征近鄰配位殼層的結構信息（包括配位原子的種類、數目、鍵長、價態以及無序度等），有助于深度剖析電極的氧化還原反應、電荷轉移過程、局域原子幾何結構變化以及無定型中間相等相關信息。

第二代是同步輻射專用光源，典型設計為利用彎轉磁鐵產生同步輻射，它們都是電子儲存環，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實驗室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實驗室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內機時供不應求，如上海光源BL14W1線站的機時申請獲批率僅有15%；另一方面，數據解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎的專業人員才能解析出更具有可信度的結果。