組分分析的前提是對于含有的物質種類有相對清楚的認識，常見問題，Q1、XAFS能獲得什么信息？，能獲得高精度的配位原子的種類、配位數(shù)以及原子間距等結構參數(shù)，Q2、XAFS，XANES，EXAFS有什么聯(lián)系和區(qū)別嗎？，Q3、為什么給出的R空間譜圖和table中的鍵長不一樣？，EXAFS擬合給出的是整個體系的平均結果，如體系中20%是六配位，80%是四配位，那么理論上給出的結果為（6*20%+4*80%=）4。

對樣品無破壞，可進行原位測試；，能獲得高精度的配位原子種類、配位數(shù)及原子間距等結構參數(shù)，一般認為原子間距度可達0，01?，在研究中，XAFS越來越成為“標配”，國內(nèi)越來越多的課題組力圖通過該技術進行深入表征，提升研究檔次，有鑒于此，湖南大學譚勇文教授課題組[4]對BiSn合金前驅體，采用一步電化學刻蝕的方法，得到了一種新型的Bi基納米線結構催化劑，該催化劑以高導電性的Bi為金屬核，以Sn摻入非晶相BiOx為殼，zui終實現(xiàn)了電化學還原CO2為甲酸的高選擇性。

第二代是同步輻射專用光源，典型設計為利用彎轉磁鐵產(chǎn)生同步輻射，它們都是電子儲存環(huán)，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實驗室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實驗室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內(nèi)機時供不應求，如上海光源BL14W1線站的機時申請獲批率僅有15%；另一方面，數(shù)據(jù)解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎的專業(yè)人員才能解析出更具有可信度的結果。