組分分析：顧名思義就是分析混合樣品中各組分的占比，也是基于XANES的分析方法，常見于原位XAFS實驗數據處理，當然也適用于其他混合樣品的組分分析，前述的價態分析常常得到非整數價態，有時候可以認為是由結構相近的但是價態不同的兩種組分混合構成的，在此基礎上可以經組分分析確定不同組分的占比，通過XANES部分圖譜，提供原子價態、初步結構的定性分析、電子結構；EXAFS擬合，提供配位原子種類、配位數和鍵長信息，以及簡單的、從物理角度對譜的分析。

本期，筆者重點介紹同步輻射XAFS技術，不依賴于長程有序結構，可用于非晶態材料的研究；，不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；，不受樣品狀態影響，可測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態）和氣體等；，作者以Bi和Bi2O3作為參考，分析了Bi2O2Se和Bi2O2Se/G復合材料中BiL3邊XANES光譜（圖8），同時利用吸收邊特征，根據偶極子選擇規則探測電子從2p3/2軌道到空6d軌道的激發。

第二代是同步輻射專用光源，典型設計為利用彎轉磁鐵產生同步輻射，它們都是電子儲存環，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實驗室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實驗室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內機時供不應求，如上海光源BL14W1線站的機時申請獲批率僅有15%；另一方面，數據解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎的專業人員才能解析出更具有可信度的結果。