X射線自由電子激光不僅能產(chǎn)生無與倫比的高亮度輻射，而且輻射具有完全的橫向相干性，并且是脈沖式的，比較有代表性的FEL光源有美國的LCLS光源，德國的EuroXFEL光源等，同步輻射XAFS對吸收元素的局域結(jié)構(gòu)和化學(xué)環(huán)境相當敏感，能夠在原子尺度上表征近鄰配位殼層的結(jié)構(gòu)信息（包括配位原子的種類、數(shù)目、鍵長、價態(tài)以及無序度等），有助于深度剖析電極的氧化還原反應(yīng)、電荷轉(zhuǎn)移過程、局域原子幾何結(jié)構(gòu)變化以及無定型中間相等相關(guān)信息。

本期，筆者重點介紹同步輻射XAFS技術(shù)，不依賴于長程有序結(jié)構(gòu)，可用于非晶態(tài)材料的研究；，不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；，不受樣品狀態(tài)影響，可測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態(tài)）和氣體等；，作者以Bi和Bi2O3作為參考，分析了Bi2O2Se和Bi2O2Se/G復(fù)合材料中BiL3邊XANES光譜（圖8），同時利用吸收邊特征，根據(jù)偶極子選擇規(guī)則探測電子從2p3/2軌道到空6d軌道的激發(fā)。

第二代是同步輻射專用光源，典型設(shè)計為利用彎轉(zhuǎn)磁鐵產(chǎn)生同步輻射，它們都是電子儲存環(huán)，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實驗室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實驗室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內(nèi)機時供不應(yīng)求，如上海光源BL14W1線站的機時申請獲批率僅有15%；另一方面，數(shù)據(jù)解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎(chǔ)的專業(yè)人員才能解析出更具有可信度的結(jié)果。