XAFS方法通常具有元素分辨性，幾乎對所有原子都具有相應(yīng)性，對固體（晶體或非晶）、液體、氣體等各類樣品都可以進行相關(guān)測試，XAFS原理示意圖，眾所周知，通過同步輻射XAFS表征技術(shù)可用獲得及其豐富的材料電子結(jié)構(gòu)和配位結(jié)構(gòu)信息，可以發(fā)現(xiàn)在許多頂刊發(fā)表的研究中XAFS都起到了至關(guān)重要的作用，擴展邊X射線吸收精細結(jié)構(gòu)分析：XAFS原始數(shù)據(jù)可以分為擴展邊X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（EXAFS）和近邊X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（XANES）兩部分。

EXAFS擬合，提供配位原子種類、配位數(shù)和鍵長信息，以及簡單的、從物理角度對譜的分析；，wavelet圖譜，作為EXAFS擬合的進一步證據(jù)，同時用小波炫圖來提高數(shù)據(jù)分析“逼格”；，幫答復(fù)審稿意見中關(guān)于XAFS的問題，提供中文回答，但不包括論文寫作；，EXAFS可以看作是中心元素內(nèi)層電子吸收X射線躍遷到外層形成光電子，光電子以波的形式發(fā)射出去并受到周圍原子的散射，散射波與發(fā)射波產(chǎn)生干涉就得到了震蕩波譜。

第二代是同步輻射專用光源，典型設(shè)計為利用彎轉(zhuǎn)磁鐵產(chǎn)生同步輻射，它們都是電子儲存環(huán)，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實驗室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實驗室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內(nèi)機時供不應(yīng)求，如上海光源BL14W1線站的機時申請獲批率僅有15%；另一方面，數(shù)據(jù)解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎(chǔ)的專業(yè)人員才能解析出更具有可信度的結(jié)果。