功能介紹

場發射掃描電子顯微鏡SEM，是一種用于高分辨形貌觀察的大型精密儀器。SEM具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強、放大倍數范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富, 幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優點。目前, 掃描電子顯微鏡已被廣泛應用于生命科學、物理學、化學、司法、地球科學、材料學以及工業生產等領域的微觀研究, 

制樣要求

1.如提供TEM的形貌圖片，無參考意義;

2.塊體、片狀、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm；粉末樣品大于10mg；

3.塊體、片狀、薄膜樣品請標注測試面；粉末不能測試線掃；

4.含水樣品測試時均需干燥后測試；

5.需備注照片倍數；每個樣多10張，需要張數請備注；

6.能譜備注理想區域，如有標尺要求請備注，如果沒有備注，常規測試；

7.1-4號元素不能測試能譜；BCNOF等超輕元素能譜測試不準，望知曉；

8.圖片不再區分小標尺，高倍數20萬倍，取消500nm和100nm的區別；

9.送樣請先檢測磁性并如實告知，因為磁性未說明損傷儀器，需要承擔維修費用；

東莞場發射掃描電鏡檢測

10.關于冷場熱場，下單請注明，無說明，隨機安排；

11.能譜圖上會有文字，不要文字的需要自己處理；

12.若有預期的形貌和標尺、放大倍數，在訂單中以文字說明;

13.一些儀器由于軟件限制，一些標尺無法輸出;

14.能譜說明：點掃、線掃、面掃分別按照一個點、一條線、一個面計費，僅提供一張形貌圖，并只用于展示測試位置。多個能譜按照個數計費。