功能介紹

X光電子能譜法是一種表面分析方法，提供的是樣品表面的元素含量與形態(tài)，一般，其信息深度約為10nm以?xún)?nèi)。如果輔以離子刻蝕手段，再利用XPS作為分析方法，則可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的深度分析。

一、電子能譜法的特點(diǎn)

1、可以分析除 H 和 He 以外的所有元素；可以直接測(cè)定來(lái)自樣品單個(gè)能級(jí)光電發(fā)射電子的能量分布，且直接得到電子能級(jí)結(jié)構(gòu)的信息。

2、從能量范圍看，如果把紅外光譜提供的信息稱(chēng)之為“分子指紋”，那么電子能譜提供的信息可稱(chēng)作“原子指紋”。它提供有關(guān)化學(xué)鍵方面的信息，即直接測(cè)量?jī)r(jià)層電子及內(nèi)層電子軌道能級(jí)。而相鄰元素的同種能級(jí)的譜線(xiàn)相隔較遠(yuǎn)，相互干擾少，元素定性的標(biāo)識(shí)性強(qiáng)。

3、是一種無(wú)損分析。

4、是一種高靈敏超微量表面分析技術(shù)。分析所需試樣極少量即可，樣品分析深度0.5-10nm 。

二、X 射線(xiàn)光電子能譜法的應(yīng)用:

東莞X射線(xiàn)光電子能譜機(jī)構(gòu)

1、元素定性分析

2、元素定量分折

3、固體表面分析

4、化合物結(jié)構(gòu)簽定

制樣要求

1.預(yù)處理尺寸要求：塊狀/片狀/薄膜：長(zhǎng)寬厚不超出1 cm × 1 cm × 3 mm（磁性樣品盡量?。▽?duì)塊狀樣品或薄膜樣品的測(cè)試面做好標(biāo)記）；粉末樣品大于200目，不少于10mg，量少請(qǐng)用稱(chēng)量紙包好再裝到管子里寄送。請(qǐng)勿用手觸摸樣品表面，會(huì)引入污染。制好樣后請(qǐng)盡快密封，避免其他物質(zhì)污染；

2.送樣前樣品需充分干燥，否則影響儀器真空度。高分子樣品在送樣前應(yīng)進(jìn)行干燥處理。若含有高揮發(fā)性分子等請(qǐng)務(wù)必烘烤；

3.樣品含有硫或碘等鹵族元素請(qǐng)務(wù)必填寫(xiě)或者提前告知，避免污染高真空系統(tǒng)；

4.樣品在超高真空及在X射線(xiàn)、紫外線(xiàn)、電子束或Ar離子束照射下應(yīng)穩(wěn)定，不分解、不釋放氣體。