功能介紹

通過對材料進行X射線衍射，得到其衍射圖譜，可獲得材料的成分、內部原子或分子的結構或形態等信息，可用于物相鑒定，粒徑表征，點陣參數、結晶度、殘余應力、晶體取向及織構的測定，具有不損傷樣品、無污染、快捷、高精度、可獲取信息量大等優點。

制樣要求

☆請盡量用樣品管送粉末樣，用樣品袋盛裝難以刮下且易損失，可能影響測試效果。

1.粉末樣至少50mg（如樣品密度偏大，請適量增加），粒度＜200目，手搓無明顯顆粒感，越細越好；

2.塊體樣品需表面平整，尺寸在3*3*1cm以內；

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3.塊體/薄膜樣品請注明測試面；

4.較薄的薄膜/涂層樣品（厚度＜100nm）請慎重選擇廣角XRD；

5.微區XRD樣品需標記待測點，束斑小為0.01mm，樣品高度應不超過8mm，待測面應平整光滑。